525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀特點：

表面粗糙度測量功能：
高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的Z高顯示分辨力為0.0001μm（測量范圍為8μm時）。
X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在搞精度精準定位下，完成間距參數的評價。
檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
輪廓測量功能：
Z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針

產品型號：SV-C3200/SV-C450

更新時間：2018-01-24

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525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500

525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀特點：

表面粗糙度測量功能：

高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的zui高顯示分辨力為0.0001μm（測量范圍為8μm時）。
X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在搞精度精準定位下，完成間距參數的評價。
檢出器測力有4mN和0.75mN可選。

輪廓測量功能：

Z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm,同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。
專為SV-C-4500系統(tǒng)增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的功能。
- 裝配雙錐面測針，實現垂直方向（上/下）連續(xù)測量，所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量得內螺紋有效直徑。
- 測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重。
的表面粗糙度/輪廓FOTMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果。
表面粗糙度測試儀和輪廓度測量儀結合在一起，節(jié)省安裝空間。

525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀規(guī)格參數

貨號				CV-3200S4	CV-3200H4	CV-3200W4	CV-3200S8	CV-3200H8	CV-3200W8
				CV-4500S4	CV-4500H4	CV-4500W4	CV-4500S8	CV-4500H8	CV-4500W8
★量表面粗糙度時
測量范圍	X軸（驅動部			100MM			200MM
	Z1軸（檢出器）			800μm/80μm/8μm
直線度				（0.05+L/1000）μm L:驅動長度（mm）			0.5μm/200mm
分辨力			Z1軸（檢出器	0.01μm（800μm），0.001μm（80μm），0.0001μm（8μm
測力				0.75mN(機身代碼末尾帶“-1”的型號) 4N(機身代碼末尾帶“-2的型號)
測針針尖形狀				60°，2μmR(機身代碼末尾帶“-1”的型號) 90°，5μmR(機身代碼末尾帶“-1”的型號)
對應尺寸				JIS1982/JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ANSI/VDA
評價參數				Pa,Pq.Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,P△q,Pmr(C),Pmr,P&c,Ra,Rc,RSm,R△q,Rmr(C),Rmr,R&c, Wa,Wq.Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,W△q,Wmr(C),Wmr,W&c Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,，AW,W,Wte,Ry,RyDIN.RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,lr,,△a,λa,λq,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW
輪廓分析				原始輪廓，粗糙度輪廓，濾波波紋輪廓，波紋輪廓，滾動圓波形原始輪廓，滾動圓波形輪廓，包絡殘余線，DF輪廓（DIN4776/ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF（包絡波紋輪廓在評價MOTIF時顯示）
分析圖表				負荷曲線,振幅分布曲線，功率譜，自相關，Walsh功率譜，Walsh自相關，分布，傾斜角分布，參數分布（磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析）
曲線補充				zui小平方直線、R面補償、橢圓補償、拋物線補償，雙曲線補償，二次曲線補償，多頂式補償（自動或任意2-7次），無補償
濾波器				高斯濾波器，2CRPC75，2CRPC50，2CR75，2CR50，魯棒樣條濾波器
輪廓測量
測量范圍	X軸（驅動部）			100MM			200MM
	Z1軸（檢出器）			60mm(水平位置±30mm)
直線度				0.8μm/100mm			2μm/200mm
精度	X軸（驅動部）			±（0.8+0.01L）μm L=驅動長度（mm）			±（0.8+0.02L）μm L=驅動長度（mm）
	Z1軸（檢出器）			SV-C3200系列：±（1.6+（2H）/100）μm SV-C4500系列：±（0.8+（2H）/100）μm H=水平位置上的測量高度（mm）
分辨力	X軸（驅動部）			0.05μm
	Z1軸（檢出器）			SV-C3200系列：0.04μm SV-C4500系列：0.02μm
	Z2軸（立柱）			1μm
測力				SV-C3200系列：30mN（可調使用重量） SV-C4500系列：10,20,30,40,50mN (根據軟件轉換)
測頭方向				SV-C3200系列：垂直方向（向上/向下單獨測量） SV-C4500系列：垂直方向（向上/向下根據配重調整）
☆通用時
Z2軸（立柱）移動量				300mm	500mm		300mm	50mm
X軸傾斜角度				±45°
驅動速度		X軸		0-80mm/s外加手動
		Z2軸（立柱）		0-30mm/s外加手動
測量速度				0.02-5mm/s